1～3 nm颗粒物在粒径分布测量仪中的通过效率研究

作     者：薛墨 傅月芸 蔡润龙 蒋靖坤 郝吉明 XUE Mo;FU Yueyun;CAI Runlong;JIANG Jingkun;HAO Jiming

作者机构：清华大学环境学院环境模拟与污染控制国家重点联合实验室 

出 版 物：《环境科学学报》 (Acta Scientiae Circumstantiae)

年 卷 期：2019年第39卷第9期

页      面：2896-2902页

核心收录：

学科分类：07[理学] 070602[理学-大气物理学与大气环境] 0706[理学-大气科学] 

基　　金：国家自然科学基金面上项目(No.21896094) 

主　　题：1~3nm颗粒物 通过效率 扫描电迁移率粒径谱仪 等效管长 

摘      要：基于二甘醇的扫描电迁移率粒径谱仪(DEG-SMPS)是常用的1~3 nm颗粒物粒径分布测量系统.目前对1~3 nm颗粒物在该系统中通过效率的量化不够准确,这给大气颗粒物粒径分布的测量带来了较大的不确定性.本文研究了1~3 nm颗粒物和离子在直管、弯管以及气溶胶中和器等系统组件中的通过效率,并使用等效管长法来量化颗粒物在这些组件单元中的通过效率.研究表明,1~3 nm颗粒物在直管内的通过效率不受颗粒物电性影响,且可以由Gormley-Kennedy (G-K)方程估算.当采样流量为2.5 L·min^-1时,DEG-SMPS系统中总等效管长约为433 cm,其中气溶胶中和器的等效管长为160 cm,弯头的等效管长为33 cm.