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基于PXI和GPIB总线电路测试系统的开发与设计
Design of Circuit Test System Based on PXI and GPIB作者机构：中国空空导弹研究院河南洛阳471009
出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)
年 卷 期：2010年第33卷第22期
页 面：35-37页
学科分类：11[军事学] 0810[工学-信息与通信工程] 1105[军事学-军队指挥学] 08[工学] 081002[工学-信号与信息处理] 110503[军事学-军事通信学]
摘 要：传统的人工方法检测硬件电路的性能存在一系列的问题。测试总线技术是支撑自动化测试系统发展的核心技术,该项目借鉴国内外在自动测试系统(ATS)尤其是军用ATS中的先进技术,针对该电路性能检测的需要,提出基于PXI和GPIB总线的LabVIEW软件平台自动测试系统设计方法。对提高电路测试效率、可信度和自动化水平具有重要意义,解决了工程应用的实际问题,是一项成功的ATS应用案例。
