TSVs串扰故障分组测试和诊断策略

作     者：王秀云 刘军 任福继 WANG Xiu-yun;LIU Jun;REN Fu-ji

作者机构：合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥230009 合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室安徽合肥230009 德岛大学工学院智能信息系日本德岛7708502 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2020年第37卷第2期

页      面：30-36页

学科分类：081203[工学-计算机应用技术] 08[工学] 0835[工学-软件工程] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：国家自然科学基金(61432004 61306049 61474035) 

主　　题：TSVs 串扰 集成电路 成品率 扫描链 

摘      要：TSVs串扰故障的测试和诊断对提高集成电路成品率有重要影响。为了减少TSVs测试和诊断时间,并且减少测试电路的面积开销,提出在信号接收端重用扫描单元的测试架构对TSVs串扰故障进行分组测试和诊断的新方案.该方案首先使用提出的TSVs分组算法,根据TSVs之间串扰影响距离,应用邻接矩阵求极大独立集对TSVs进行快速分组,使得每组内的TSVs不会发生串扰故障,并且最大化同组中TSVs的数量.分组完成后,使用提出的测试架构对同组内的TSVs进行并行测试,并且根据TSVs的测试响应,可以进一步诊断故障TSVs.实验结果表明,所提测试方案有效地减少了测试和诊断时间,并且减少了面积开销.