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一种体外培养神经元原位包埋电镜样品的制作方法

Preparation of in situ embedding electron microscopic samples of cultured neurons in vitro

作     者:金良韵 陈欣月 杜尊赎 常丽荣 宋一志 李慧 武艳 JIN Liang-yun;CHEN Xin-yue;DU Zun-shu;CHANG Li-rong;SONG Yi-zhi;LI Hui;WU Yan

作者机构:首都医科大学基础医学院人体解剖与组织胚胎学系北京100069 

出 版 物:《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)

年 卷 期:2020年第39卷第3期

页      面:334-336页

学科分类:0710[理学-生物学] 07[理学] 09[农学] 071007[理学-遗传学] 0901[农学-作物学] 090102[农学-作物遗传育种] 

基  金:国家自然科学基金资助项目(No.81200968) 

主  题:透射电镜技术 原位包埋 原代培养神经元 突触 

摘      要:透射电镜是观察鉴定突触超微结构的重要研究手段。因常规悬浮离心法无法保留细胞原有形貌,难以用于原代培养神经元样品的研究。原位包埋法虽然适用于单层培养细胞样品,但包埋后的剥离,常常会有些难度。本方法探索以细胞基质胶构筑原代培养神经元生长支持界面,原位固定包埋制样。实验结果表明:超薄切片无孔洞及细胞缺失,细胞及突触超微结构保存良好。

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