表面活性剂临界胶束浓度测定方法的建立和比较

作     者：任霞 王珏 孙会敏 涂家生 Ren Xia;Wang Jue;Sun Huimin;Tu Jiasheng

作者机构：中国药科大学药用辅料及仿创药物研发评价中心南京210009 国家药品监督管理局药用辅料质量研究与评价重点实验室中国食品药品检定研究院北京100050 

出 版 物：《中国药事》 (Chinese Pharmaceutical Affairs)

年 卷 期：2020年第34卷第8期

页      面：916-924页

学科分类：1007[医学-药学(可授医学、理学学位)] 100704[医学-药物分析学] 10[医学] 

基　　金：国家科技重大新药创制专项(编号2017zx09101001) 

主　　题：表面活性剂 临界胶束浓度 芘荧光光谱法 表面张力法 电导率法 

摘      要：目的:临界胶束浓度(Critical Micelle Concentration,CMC)是表面活性剂重要的功能性指标,本文旨在建立一种适用于离子型和非离子型表面活性剂临界胶束浓度的快速准确的测定方法。方法:采用芘荧光光谱法测定不同类型表面活性剂CMC值,并将结果与传统表面张力法和电导率法结果相比较。结果:芘荧光法测定不同种类表面活性剂CMC值重复性良好,其测定结果与经典的表面张力法和电导率法测定结果相比无显著性差异。结论:建立了重复性和准确度良好的芘荧光光谱法,该法操作简单、准确度高,可以替代表面张力法及电导率法测定表面活性剂的CMC值。