屏蔽电缆转移阻抗的三同轴测试方法研究

作     者：张驰 孙磊 陈莹 ZHANG Chi;SUN Lei;CHEN Ying

作者机构：工业和信息化部电子第五研究所元器件检测中心广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所广东广州510610 空军航空大学吉林长春130062 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2020年第38卷第S02期

页      面：40-44页

学科分类：080802[工学-电力系统及其自动化] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 

主　　题：阻抗匹配 三同轴法 转移阻抗 双短路法 

摘      要：利用AS(ALBERT *** and STEVEN ***)模型推导出阻抗匹配程度对三同轴法测试屏蔽电缆转移阻抗结果的影响。对同一屏蔽电缆在满足不同的阻抗匹配条件时的转移阻抗进行了测试,并对测试结果进行了对比分析。结果表明:阻抗匹配程度的优劣对测试结果的影响不可忽略,实际的测试过程中这种影响是交叉存在的。此外,在三同轴法中双短路法相比电阻馈电法在阻抗匹配条件上更容易实现,实际的测试结果也会更加准确。