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碳化硅单晶抛光片规范

碳化硅单晶抛光片规范

Specification for polished monocrystalline silicon carbide wafers

标准编号:SJ/T 11502-2015

提出单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所;北京天科合达蓝光半导体有限公司;工业和信息化部电子工业标准化研究院;河北同光晶体有限公司

起草单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所;北京天科合达蓝光半导体有限公司;工业和信息化部电子工业标准化研究院;河北同光晶体有限公司

发布单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所;北京天科合达蓝光半导体有限公司;工业和信息化部电子工业标准化研究院;河北同光晶体有限公司

发布日期:2015年

实施日期:10000000

页      码:17P.;A4页

中国标准分类号:H83

国际标准分类号:29_045

摘      要:本规范规定了碳化硅单晶抛光片的术语和定义、牌号、要求、试验方法、检验规则以及包装、标志、贮存和运输等内容。 本规范适用于晶型为6H和4H,单面或双面抛光,直径100 mm及以下的碳化硅单晶抛光片。其它晶型或尺寸的碳化硅单晶抛光片可参照使用。

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