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碳化硅单晶晶型的测试方法
Test method for determining crystal type of monocrystalline silicon carbide标准编号：SJ/T 11501-2015
提出单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所;工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所;工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所;工业和信息化部电子工业标准化研究院
发布日期：2015年
实施日期：10000000
页 码：9页
中国标准分类号：H83
国际标准分类号：29_045
摘 要：本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶结晶类型的方法。 本标准适用于碳化硅单晶晶型的测定。
