光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法

标准编号：GB/T 26332.4-2015

提出单位：沈阳仪表科学研究院有限公司;同济大学;浙江大学;大连化学物理研究所;沈阳汇博光学公司;杭州科汀光学技术有限公司;国家仪器仪表元器件质量监督检验中心

起草单位：沈阳仪表科学研究院有限公司;同济大学;浙江大学;大连化学物理研究所;沈阳汇博光学公司;杭州科汀光学技术有限公司;国家仪器仪表元器件质量监督检验中心

发布单位：沈阳仪表科学研究院有限公司;同济大学;浙江大学;大连化学物理研究所;沈阳汇博光学公司;杭州科汀光学技术有限公司;国家仪器仪表元器件质量监督检验中心

发布日期：2015年

实施日期：20160701

页      码：17P.;A4页

中国标准分类号：N30

国际标准分类号：17_180

摘      要：GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法，但不拟用于规定镀制方法。本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法，这些方法在GB/T 12085-2010标准中没有描述。这些方法通常与GB/T 26332.3-2015附录A中的测试方法组成试验序列共同使用。本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。