一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置

专利申请号：CN201811639597.9

公 开 号：CN109489752A

发 明 人：陈继革 成正东 陈妙谋 徐斌 李敬阳 

代 理 人：诸炳彬

代理机构：11508 北京维正专利代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20190319

公 开 日：20181229

专利主分类号：G01F1/86(20060101)

关 键 词：管道通孔 闪烁晶体 射线探测 支撑架 探测器 外壁 射线 射线测量装置 射线探测装置 质量计量装置 全截面测量 放射源 多相流量 放射装置 降低系统 流体管道 使用寿命 性能下降 周向分布 组件包括 半衰期 本征 减小 测量 垂直 老化 

摘      要：本发明涉及一种基于射线符合测量的多相流量质量计量装置，所述射线探测装置包括支撑架，所述支撑架中心设有供流体管道通过的管道通孔，所述管道通孔的外壁上设有若干射线探测组件，射线探测组件沿垂直于管道通孔的周向分布；所述射线探测组件包括闪烁晶体和探测器，闪烁晶体位于管道通孔的外壁与探测器之间。本发明利用闪烁晶体的本征射线进行全截面测量，不但能够取消现有技术射线测量装置中的放射源，降低系统的成本，减小设备的体积，极大的提高系统的安全性和可靠性。同时，由于Lu‑176的半衰期为2.1×1010年，设备不会由于放射装置老化而产生性能下降，极大的提高了系统的稳定性和使用寿命。