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采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件
专利申请号：CN201980002504.8
公 开 号：CN110892483A
代 理 人：林锦辉;刘景峰
代理机构：11376 北京永新同创知识产权代理有限公司
专利类型：发明申请
申 请 日：20200317
公 开 日：20191017
专利主分类号：G11C29/56(20060101)
关 键 词：引脚 存储器裸片 隔离 测试模式选择 测试时钟引脚 测试数据 隔离状态 控制器 裸片 存储器件 接收控制 测试
摘 要：一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚、测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚。所述方法包括：将隔离引脚设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态；以及在隔离引脚被设置为隔离状态时，将存储器裸片设置为经由测试模式选择引脚、测试时钟引脚和测试数据引脚接收控制。
