位置检测系统以及位置检测方法

专利申请号：CN201580072887.8

公 开 号：CN107205612B

发 明 人：铃木优辅 千叶淳 河野宏尚 木村敦志 

代 理 人：刘新宇;张会华

代理机构：11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型：授权发明

申 请 日：20190402

公 开 日：20151106

专利主分类号：A61B1/00(20060101)

关 键 词：磁场 检测线圈 位置检测 金属架 胶囊型内窥镜 磁场校正 校正系数 校正 检测 校正系数存储部 位置检测系统 磁场发生部 位置计算部 产生位置 检测磁场 配置 姿势 存储 输出 

摘      要：位置检测系统具备：胶囊型内窥镜，其设置有用于产生位置检测用磁场的磁场发生部；多个检测线圈，所述多个检测线圈检测磁场；金属架，其通过位置检测用磁场的作用而产生磁场；磁场校正部，其对由多个检测线圈分别检测出的磁场的测定值进行校正；校正系数存储部，其存储该校正中使用的校正系数；以及位置计算部，其使用由磁场校正部校正后的测定值来计算胶囊型内窥镜的位置和姿势中的至少一方，其中，校正系数是在配置了金属架的状态下由多个检测线圈分别输出的位置检测用磁场的测定值与在没有配置金属架的状态下由多个检测线圈分别检测出的位置检测用磁场的测定值的函数。