电磁波检测元件、电磁波传感器、电子设备和结构体

专利申请号：CN201780054535.9

公 开 号：CN109690778A

发 明 人：今泉伸治 角野宏治 

代 理 人：王玉双;谢雪闽

代理机构：11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20190426

公 开 日：20170822

专利主分类号：H01L27/144(20060101)

关 键 词：电介质层 第一导电层 石墨烯层 导电性材料 第二导电层 电磁波检测 电介质体 天线单元 石墨烯 检测 电磁波传感器 电子设备 电磁波 结构体 微细化 波长 

摘      要：本发明提供一种能够检测任意波长的电磁波且能够微细化的电磁波检测元件、电磁波传感器、电子设备和结构体。根据本技术的电磁波检测元件包括天线单元和检测单元。天线单元包括由导电性材料构成的第一导电层，层叠在第一导电层上并由电介质体构成的第一电介质层，以及层叠在第一电介质层上并由石墨烯构成的第一石墨烯层。检测单元包括由导电性材料构成并与第一导电层分离开的第二导电层，层叠在第二导电层上并由电介质体构成的第二电介质层，以及层叠在第二电介质层上、由石墨烯构成并与第一石墨烯层分离开的第二石墨烯层。