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用于经由代表性I/O发生器测试储存设备的方法和系统

用于经由代表性I/O发生器测试储存设备的方法和系统

专利申请号:CN201810980478.3

公 开 号:CN109509505A

发 明 人:J.S.比马尼 R.潘杜兰甘 V.巴拉克里什南 崔昌皓 

代 理 人:邵亚丽

代理机构:11105 北京市柳沈律师事务所

专利类型:发明申请

申 请 日:20190322

公 开 日:20180827

专利主分类号:G11C29/02(20060101)

关 键 词:工作负载 模式数据库 测量系统 模式集成 用户提供 存储 配置 

摘      要:本发明的实施例的方面涉及生成代表性I/O的系统和方法。该系统被配置为利用被存储在模式数据库中的代表性I/O模式。用户可以选择一个或多个模式来执行I/O使用。根据用户提供的参数来修改模式,并将多个模式集成到单一工作负载中。然后根据工作负载生成I/O,并且可以测量系统性能。

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