利用光纤光栅位移传感器测量基岩轴向变形的装置及方法

专利申请号：CN201510055882.6

公 开 号：CN104634269B

发 明 人：汪小刚 王万顺 李秀文 葛怀光 孙建会 姜龙 田冬成 许源 贺虎 熊成林 朱赵辉 

代 理 人：王淑玲

代理机构：11471 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司

专利类型：授权发明

申 请 日：20170606

公 开 日：20150203

专利主分类号：G01B11/16(20060101)

关 键 词：位移计 光纤光栅 基岩 轴向变形 光纤光栅位移传感器 信号转换机构 顺次连接 光缆 测量 地下洞室围岩 安装孔位 光缆连接 光纤光纤 温度补偿 温度影响 成串 可读 组装 检测 

摘      要：本发明公开了一种利用光纤光栅位移传感器利用光纤光栅位移传感器测量基岩轴向变形的装置及方法，该装置包括光纤光栅位移计、光缆和信号转换机构，所述光纤光栅位移计与所述信号转换机构之间通过光缆连接；所述光纤光栅位移计顺次连接，用以检测基岩的轴向变形；通过光缆与所述光纤光栅位移计连接，用以接收光缆中的信号并转变为可读的信息。本发明的有益效果为：基于光纤光栅位移计解决了测量基岩轴向变形的问题，并且采用带温度补偿的光纤光纤位移计可避免温度影响；通过将不同光纤光栅位移计顺次连接组装成串，可连续测得地下洞室围岩和基岩的轴向变形；根据安装孔位设计不同，还可测得不同方向的基岩轴向变形。