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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
芯片测试方法、装置及电子设备
专利申请号：CN201910610101.3
公 开 号：CN110441667A
代 理 人：房德权
代理机构：11302 北京华沛德权律师事务所
专利类型：发明专利
申 请 日：20191112
公 开 日：20190708
专利主分类号：G01R31/26(20140101)
关 键 词：芯片 时间档位 最小电压 芯片测试 测试 档位 装置及电子设备 档位确定 电压档位 损伤 保证
摘 要：本发明实施例涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种芯片测试方法、装置及电子设备。该方法能够以最小时间档位和最小电压档位为基准对芯片进行测试，若芯片在最小时间档位和最小电压档位下能够通过测试，则根据最小时间档位和最小电压档位确定芯片的操作条件，如此，能够在保证芯片通过测试的前提下避免时间档位和电压档位过大对芯片造成的损伤，从而保证了芯片的寿命。
