保偏光纤的轴向应变-双折射系数的测量系统及测量和计算方法

专利申请号：CN201610976260.1

公 开 号：CN106568580B

发 明 人：冯亭 丁东亮 姚晓天 

代 理 人：毛燕生

代理机构：11255 北京市商泰律师事务所

专利类型：发明专利

申 请 日：20190212

公 开 日：20161107

专利主分类号：G01M11/02(20060101)

关 键 词：保偏光纤 串扰 输出保偏光纤 输入保偏光纤 分析系统 第一端 偏振 读数显微镜 光纤应力 调节架 预设 指针 输入端口连接 测量和计算 测量系统 输出端口 轴向应变 引入 双折射 

摘      要：本发明公开一种保偏光纤的轴向应变‑双折射系数的测量系统及测量和计算方法，所述系统包括：分布式偏振串扰分析系统、输出保偏光纤、待测保偏光纤、输入保偏光纤、第一光纤应力调节架、第二光纤应力调节架、带指针的第一读数显微镜、带指针的第二读数显微镜；分布式偏振串扰分析系统的输出端口与所述输出保偏光纤的第一端连接；所述输入保偏光纤的第二端与所述分布式偏振串扰分析系统的输入端口连接；输出保偏光纤的第二端与所述待测保偏光纤的第一端连接，且在输出保偏光纤与所述待测保偏光纤的连接处引入第一预设串扰峰；所述待测保偏光纤的第二端与所述输入保偏光纤的第一端连接，且在待测保偏光纤与输入保偏光纤的连接处引入第二预设串扰峰。