可取得存储器运作信息的测试装置及其测试方法

专利申请号：CN201811554703.3

公 开 号：CN111341377A

发 明 人：林毅 游子平 

专利类型：发明申请

申 请 日：20200626

公 开 日：20181219

专利主分类号：G11C29/56(20060101)

关 键 词：存储器单元 储存单元 运作信息 基板管理控制单元 微控制单元 测试装置 基板管理控制器 服务器装置 处理单元 串列埠 存储器 南桥 省时 整合 连结 传送 储存 测试 应用 

摘      要：一种可取得存储器运作信息的测试装置及其测试方法，应用于一服务器装置。该服务器装置包含一基板管理控制单元、一处理单元，及一存储器单元。该基板管理控制单元包括一基板管理控制器，及一串列埠。该测试装置包含一序列埠、一微控制单元，及一储存单元。该处理单元传送该存储器单元的运作信息经该南桥至该基板管理控制单元的基板管理控制器。该序列埠被连结至该串列埠时，该微控制单元经该序列埠接收该存储器单元的运作信息并储存于该储存单元。藉由该微控制单元、该序列埠与该储存单元整合成该测试装置的设计，便于使用者可直接透过该储存单元就可取得该存储器单元的运作信息，省时方便且有效率。