光纤干涉仪臂长差测试系统及测试方法

专利申请号：CN202010320496.6

公 开 号：CN111551198A

发 明 人：叶蕾 叶青 蔡海文 翟荣辉 王照勇 卢斌 

代 理 人：张宁展

代理机构：31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20200818

公 开 日：20200422

专利主分类号：G01D5/353(20060101)

关 键 词：光纤干涉仪 臂长差 干涉仪 信号采集模块 信号处理系统 光纤耦合器 测试光路 待测光纤 法拉第反射镜 模拟信号采集 数据采集模块 数字信号处理 随机相位噪声 信号模数转换 波分复用器 单频激光器 高精度测试 光纤环形器 扫描激光器 噪声和振动 测试系统 分离技术 光电转换 光纤线圈 测试 

摘      要：一种基于随机相位噪声分离技术的光纤干涉仪臂长差测试系统及测试方法，该系统包括：扫描激光器、单频激光器、测试光路、待测光纤干涉仪、信号采集模块、信号处理系统。测试光路是由1个2*2光纤耦合器，1个光纤环形器，2个波分复用器(WDM)组成；待测光纤干涉仪为1副迈克逊干涉仪，由1个2*2光纤耦合器、1卷光纤线圈和2个法拉第反射镜组成；信号采集模块功能主要包括光电转换，模拟信号采集和信号模数转换；信号处理系统功能包括扫数据采集模块控制、光纤干涉仪臂长差数字信号处理。本发明能在噪声和振动环境下实现光纤干涉仪臂长差的高精度测试。