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SWP物理层S2解码自对准方法、装置及设备

SWP物理层S2解码自对准方法、装置及设备

专利申请号:CN202011283152.9

公 开 号:CN112149439A

发 明 人:朱锦涛 

代 理 人:李俊

代理机构:51202 成都科海专利事务有限责任公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20201229

公 开 日:20201117

专利主分类号:G06K7/10(20060101)

关 键 词:采样 解码 自对准 物理层 误码率 减小 主机 集成电路电路 设计技术领域 计数器 采样计数器 装置及设备 串行数据 误差累积 信号解码 有效解决 累加 波特率 上升沿 清零 唤醒 检测 通信 保证 

摘      要:本发明涉及一种SWP物理层S2解码自对准方法、装置及设备,属于带SWP接口的集成电路电路设计技术领域,本发明在S1的上升沿之后将S2的采样计数器清零,此后计数器开始累加,在S1信号的1/8处对S2进行采样,而不是在检测到S2的唤醒序列之后开始对S2进行周期性的采样,从而保证S2的每个bit之间的采样都是独立的,有效避免了错误的累计,有效解决了现有技术中串行数据采样时误差累积的问题,减小误码率和提高通信速度。通过本发明可完成SWP协议主机侧物理层S2信号解码时的自对准,解码时可以根据主机侧的S1信号完成S2的自对准,从而可以适应不同的SWP从机,减小误码率的同时能够在解码S2时根据S1自动适应波特率。

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