基于基线校正和谱峰识别提升激光诱导击穿光谱技术定性检测能力的方法

专利申请号：CN202110264298.7

公 开 号：CN113008874A

发 明 人：杨蕾 刘家铭 张雁辉 张姿 何鹏 纪峰 魏永清 陈晶晶 卢荣胜 

代 理 人：张加宽

代理机构：34142 合肥中博知信知识产权代理有限公司

专利类型：发明申请

申 请 日：20210622

公 开 日：20210311

专利主分类号：G01N21/73(20060101)

关 键 词：基线校正 谱峰识别 拟合 谱峰 激光诱导击穿光谱 原子发射光谱学 漂移 修正 波形形态 定性检测 光谱基线 光谱数据 实验样本 算法修正 信息提取 在线检测 自动完成 光谱峰 特征峰 物质组 自适应 畸变 准确率 分型 算法 去除 分段 定性 分析 参考 改进 

摘      要：本发明涉及原子发射光谱学的物质组份分析技术领域，具体描述的是一种基于基线校正和谱峰识别提升激光诱导击穿光谱技术定性检测能力的方法，所述的方法包括改进分段Hermite三次插值基线校正算法自适应实现LIBS基线校正；以及，在基线校正的基础上，利用谱峰分型拟合的谱峰识别算法修正畸变的LIBS特征峰，准确识别特征峰峰位。本发明提供的方法能有效去除光谱数据中，由系统、环境等因素引起的LIBS光谱基线漂移；解决了传统谱峰识别方法中LIBS谱峰波形形态难以识别的困难，根据光谱峰型进行不同方式的修正拟合，提高了谱峰识别的准确率；本发明可自动完成以上分析与修正，更适合大量实验样本的信息提取，为LIBS定性和定量的在线检测提供一种有价值的参考。