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受试者的相关表面点的采样方法

受试者的相关表面点的采样方法

专利申请号:CN202080027746.5

公 开 号:CN113660912A

发 明 人:费迪南德·施托希 詹尼克·克里斯特 

代 理 人:高岩;乔图

代理机构:11227 北京集佳知识产权代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20211116

公 开 日:20200409

专利主分类号:A61B34/20(20060101)

关 键 词:表面点 附加信息 表面几何形状 导航系统 技术效果 配准设备 采样 丢弃 验证 分配 医学 改进 

摘      要:提供了一种用于对医学导航系统的受试者的相关表面点进行采样的方法和配准设备。特别地,从受试者的多个表面点中,接受相关表面点并且丢弃非相关表面点。本发明的一个技术效果是可以改进受试者的表面几何形状获取。为此,获取表面点的附加信息,并且将附加信息分配给相应的表面点以用于验证每个表面点。

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