一种中子层析成像分辨率测试件及其芯体制作方法

专利申请号：CN202111104387.1

公 开 号：CN113804527A

发 明 人：尹伟 唐彬 曹超 李航 王胜 吴洋 霍和勇 刘斌 孙勇 李润东 杨鑫 罗昕 

代 理 人：中国工程物理研究院专利中心仲万珍

代理机构：51210 中国工程物理研究院专利中心

专利类型：发明申请

申 请 日：20211217

公 开 日：20210918

专利主分类号：G01N1/28(20060101)

关 键 词：分辨率标记 芯体 测试件 条纹 封盖 底座 分辨率测试 中空腔体 中子层析成像 特征标记物 层析成像 动态测试 高分辨率 间隔粘结 实际需求 热中子 粘结剂 分辨率 制备 制作 切割 

摘      要：本发明公开了一种中子层析成像分辨率测试件，该测试件包括：底座、芯体和封盖；所述底座和封盖组合形成中空腔体，芯体置于底座和封盖组合形成中空腔体中，芯体表面分布多个不同宽度的分辨率标记条纹，芯体根据实际需求可设置多个；本发明公开的芯体制作方法，首先制备各种不同宽度的分辨率标记片，之后将多组分辨率标记片利用粘结剂间隔粘结在U型槽中，最后进行分辨率标记条纹的切割，该制作方法简单易操作，解决了高分辨率特征标记物的制作难题；本发明公开的测试件采用不同宽度的分辨率标记条纹满足冷中子或者热中子层析成像的不同分辨率测试要求，采用多个测试件芯体组合扩大了分辨率的动态测试范围，适用性强。