一种基于分离统计高效收集的性能统计电路

专利申请号：CN201711283733.0

公 开 号：CN108108149B

发 明 人：牛少平 魏艳艳 韩一鹏 邓艺 郝冲 

代 理 人：中国航空专利中心王迪

代理机构：11008 中国航空专利中心

专利类型：授权发明

申 请 日：20211224

公 开 日：20171206

专利主分类号：G06F5/06(20060101)

关 键 词：统计数据 寄存器 锁定 读取 集成电路技术 性能统计电路 计数器 采样计数器 可配置参数 采集频率 采样数据 采样周期 存储地址 存储设备 模块功能 收集性能 数据缓冲 主机配置 写数据 一次性 采样 写入 存储 发送 统计 

摘      要：本发明属于集成电路技术领域，公开了一种基于分离统计高效收集的性能统计电路，包含可配置参数寄存器1、采样计数器2、锁定计数器3、FIFO及写、读FIFO逻辑4。本发明能够根据所需采样周期，在规定时刻采样所有需要收集性能统计数据的寄存器中的锁定值，将所采样数据通过写通路写入本单元的数据缓冲FIFO中，当存入FIFO的值满足通过AXI总线向DDR写数据的最大burst长度或当前统计数据读取完毕时，一次性将FIFO中的数据以burst的形式通过AXI总线存入DDR中。可准确高效的收集并存储不同模块的数据并最终发送至存储设备，支持主机配置本模块功能的开启及关闭、采集频率、存储地址等信息。