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基片处理装置、喷嘴检查方法和存储介质

基片处理装置、喷嘴检查方法和存储介质

专利申请号:CN202080055978.1

公 开 号:CN114269481A

发 明 人:滨田佳志 只友浩贵 桾本裕一朗 羽山隆史 

代 理 人:北京尚诚知识产权代理有限公司龙淳;刘芃茜

代理机构:11322 北京尚诚知识产权代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20220401

公 开 日:20200804

专利主分类号:B05B15/50(20180101)

关 键 词:释放口 液喷嘴 拍摄 检查图像 基片处理装置 释放处理液 附着物 附着状态 图像获取 

摘      要:本发明的基片处理装置包括:从释放口对下方的基片释放处理液的液喷嘴;对液喷嘴的释放口的附近的全周进行拍摄的拍摄部;和控制部,控制部执行:图像获取控制,其获取在拍摄部中拍摄到的液喷嘴的释放口附近的全周的检查图像;和评价控制,其根据液喷嘴的释放口附近的全周的检查图像,进行附着物在液喷嘴的释放口的附着状态的评价。

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