测试装置及测试系统

专利申请号：CN202111682301.3

公 开 号：CN114325198A

发 明 人：田胜金 王政伟 刘武 刘勇 黄思涔 

代 理 人：张娜;刘芳

代理机构：11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司

专利类型：发明申请

申 请 日：20220412

公 开 日：20211229

专利主分类号：G01R31/00(20060101)

关 键 词：脉冲信号数据 综合电子 控制器 卫星 信号检测模块 指令检测模块 输出模块 外部设备 控制电路属性 发送 测试数据 测试系统 测试效率 测试装置 电路属性 发出指令 故障信息 人工分析 综合测试 检测 预设 申请 反馈 输出 

摘      要：本申请提供一种测试装置及测试系统。该装置包括：电路属性输出模块、指令检测模块、信号检测模块以及控制器，控制器，用于控制电路属性输出模块输出预设值至卫星综合电子设备以使其反馈对比数值；指令检测模块，用于检测卫星综合电子设备向外部设备发出指令时对应的第一脉冲信号数据，将第一脉冲信号数据发送至控制器；信号检测模块，用于检测卫星综合电子设备发出信号时对应的第二脉冲信号数据，将第二脉冲信号数据发送至控制器；控制器，还用于若根据对比数值或第一脉冲信号数据或第二脉冲信号数据确定卫星综合电子设备存在故障，生成故障信息。本申请的装置，能够对卫星综合电子进行综合测试，无需人工分析测试数据，能够有效提高测试效率。