用于测量大尺寸各向同性激光介质中弱各向异性的测量装置及测量方法和应用

专利申请号：CN202111619346.6

公 开 号：CN114384068A

发 明 人：李丙轩 张戈 黄凌雄 廖文斌 林长浪 陈玮冬 

代 理 人：邹智弘

代理机构：北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明申请

申 请 日：20220422

公 开 日：20211227

专利主分类号：G01N21/84

关 键 词：激光介质 聚光腔 测量 测量装置 泵浦源 材料性能测试技术 各向异性测量 信号分析模块 激光谐振腔 测试模块 计算模块 偏振检测 信号分析 焦点处 谐振腔 指示光 偏振 检测 应用 

摘      要：本发明公开了用于测量大尺寸各向同性激光介质的弱各向异性测量装置及测量方法，属于材料性能测试技术领域。本发明的测量装置包括：聚光腔、泵浦源、激光介质、激光谐振腔、偏振测试模块、信号分析模块、弱各向异性计算模块和指示光路模块；所述泵浦源和激光介质设置于所述聚光腔内，其中，所述激光介质位于聚光腔的焦点处；所述聚光腔设置于所述谐振腔内。本发明还提供通过上述测量装置的测量方法及其应用。本发明解决了现有技术中难以精确测量各向同性激光介质的弱各向异性的问题，本发明采用偏振检测及信号分析结合的方式，大大提高了检测精度、速度、准确性。