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几何量测量方法及其装置

几何量测量方法及其装置

专利申请号:CN202080094832.8

公 开 号:CN115023586A

发 明 人:陈剑 

代 理 人:北京三友知识产权代理有限公司陈烨;钱能

代理机构:北京三友知识产权代理有限公司

专利类型:发明申请

申 请 日:20220906

公 开 日:20200917

专利主分类号:G01B21/02

关 键 词:待测几何量 载荷测定 测量 约束力 函数关系 惯性参照系 几何量测量 标准几何 产生运动 第二测量 第一测量 准确测量 几何量 灵敏度 内力 变形 承载 衔接 阻碍 

摘      要:一种几何量测量方法及装置,采用弹性传载元件(103)和载荷测定组件(102),通过载荷测定组件(102)阻碍弹性传载元件(103)第一承载部位(1032)相对于惯性参照系(106)产生运动;弹性传载元件(103)将第一测量边界(1018)或第二测量边界(1019)与载荷测定组件(102)相衔接,使弹性传载元件(103)产生变形,并产生相应的材料内力;使用载荷测定组件(102)测量约束力(107、107'、…),比较得出约束力(107、107'、…)与待测几何量之间的函数关系,通过测量约束力(107、107'、…)的量值得到待测几何量,比较得出待测几何量与标准几何量间的函数关系,确定待测几何量的量值。所获取的有益效果是:能提高测量灵敏度和测量稳定性,而且能够对空间内任意几何量以及点、线或面的任意位移实现准确测量,能够对空间内任意载荷实现准确测定。

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