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针对参数故障的自动测试模式生成(ATPG)
专利申请号：CN202180014619.6
公 开 号：CN115151910A
代 理 人：北京市金杜律师事务所丁君军
代理机构：北京市金杜律师事务所
专利类型：发明申请
申 请 日：20221004
公 开 日：20210219
专利主分类号：G06F30/398
关 键 词：集合 故障事件 随机变量 自动测试模式 参数故障 构建 裕度 集成电路 预测 违反
摘 要：描述了用于针对参数故障的自动测试模式生成(ATPG)的系统和方法。模型可以被构建，以基于随机变量的随机样本来预测集成电路(IC)设计的测量结果裕度。可以使用该模型为IC设计确定故障事件的集合，其中每个故障事件可以对应于随机变量的值的集合，该值的集合预期会使IC设计的指标违反阈值。
