咨询与建议

看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >全光型微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数测量方法 收藏
全光型微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数测量方法

全光型微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数测量方法

专利申请号:CN202110512777.6

公 开 号:CN115327225A

发 明 人:吴龟灵 陈萧恩 陈建平 

代 理 人:上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)张宁展

代理机构:上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

专利类型:发明专利

申 请 日:20221111

公 开 日:20210511

专利主分类号:G01R23/165

关 键 词:光脉冲 矢量网络分析 微波光子频率 光脉冲序列 数字化模块 锁定 产生模块 发生模块 输出端 采样 转换 信号处理模块 信号加载模块 光输入端 微波光子 异步采样 可调谐 输入端 频谱 全光 泄露 测量 

摘      要:一种全光型微波光子矢量网络分析装置,包括光脉冲序列发生模块、光脉冲重频转换与锁定模块、可调谐的微波光子频率产生模块、信号加载模块、光采样与数字化模块和信号处理模块,所述的光脉冲序列发生模块和光脉冲重频转换与锁定模块的输入端相连;所述的光脉冲重频转换与锁定模块的第一输出端和第二输出端分别与所述的微波光子频率产生模块和光采样与数字化模块的光输入端相连。本发明避免了异步采样带来的频谱泄露等问题,进一步提高了矢量网络分析仪的测量精度。

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分