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光学检测设备及用于可挠性输送件的光学尺模组

光学检测设备及用于可挠性输送件的光学尺模组

专利申请号:CN202221950242.3

公 开 号:CN217819958U

发 明 人:李彦志 

代理机构:北京易光知识产权代理有限公司

专利类型:实用新型

申 请 日:20221115

公 开 日:20220727

专利主分类号:G01N21/01

关 键 词:光学尺 可挠性 输送件 机台 圆形编码器 支撑结构 取像器 滚轮 模组 光学检测设备 带动旋转 弹性压接 电性连接 摩擦接触 检测物 取像 行进 拍摄 

摘      要:一种光学检测设备及用于可挠性输送件的光学尺模组,光学检测设备包括机台、取像器、光学尺模组以及设置于机台的可挠性输送件。光学尺模组包含:设置于机台的支撑结构、设置于支撑结构的圆形编码器以及连接圆形编码器的滚轮;支撑结构带动滚轮以弹性压接方式摩擦接触于可挠性输送件,圆形编码器电性连接取像器且经由被滚轮带动旋转而产生光学尺讯号。借此,可达成确实模拟出可挠性输送件的实际行进速度和距离的效果以及让取像器对待检测物进行等距离的拍摄取像的效果。

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