射频参数检测电路、方法和电子设备

专利申请号：CN202011201887.2

公 开 号：CN112291022B

发 明 人：马士强 

代 理 人：北京银龙知识产权代理有限公司许静;黄灿

代理机构：北京银龙知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20221118

公 开 日：20201102

专利主分类号：H04B17/10

关 键 词：耦合器 射频芯片 测试仪 功率放大器 存储器 调谐器 射频发射功率 检测电路 射频参数 阻抗参数 耦合功率 匹配 功率放大器输出 通信技术领域 电子设备 关联存储 关联关系 目标天线 射频通路 使用环境 申请 检测 

摘      要：本申请公开了一种射频参数检测电路、方法和电子设备，属于通信技术领域。其中，射频参数检测电路，包括：射频芯片、功率放大器、耦合器、调谐器、测试仪和存储器；功率放大器连接于射频芯片与耦合器之间，调谐器连接于耦合器与测试仪之间，且存储器分别与射频芯片、耦合器以及测试仪连接；调谐器的阻抗参数用于与目标天线的阻抗参数匹配，测试仪用于检测经射频芯片和功率放大器的射频发射功率，存储器用于将耦合器的耦合功率与射频发射功率关联存储。本申请实施例能够使耦合功率与功率放大器输出功率之间的关联关系与射频通路的使用环境更加匹配，从而提升TRP的精确度。