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一种晶体自动定向测量装置和测量方法
专利申请号：CN202210565668.5
公 开 号：CN114910496A
代 理 人：上海市锦天城律师事务所汪妍瑜
代理机构：上海市锦天城律师事务所
专利类型：发明专利
申 请 日：20220816
公 开 日：20220523
专利主分类号：G01N23/207
关 键 词：底板 弧形导轨 接收组件 位置记录装置 接收器 控制系统 控制传动机构 测量装置 定向测量 对称布置 自动定向 滑动 测量 两边 记录
摘 要：本发明属于晶体定向测量领域，提供了一种晶体自动定向测量装置和测量方法，该装置具有底板、弧形导轨、X射线发射组件、接收组件、传动机构、控制系统以及位置记录装置，其特征在于：弧形导轨安装在底板上并在底板左右两边对称布置，X射线发射组件以及接收组件通过传动机构能够在弧形导轨上沿圆弧方向滑动，X射线发射组件具有X射线发射器，接收组件具有接收器，控制系统控制传动机构运动，位置记录装置能够记录X射线发射器以及接收器的位置信息。
