颗粒表征仪器

专利申请号：CN201780062043.4

公 开 号：CN109804233B

发 明 人：理查德·斯卡利恩 贾森·科比特 

代 理 人：成都超凡明远知识产权代理有限公司魏彦;洪玉姬

代理机构：成都超凡明远知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20221125

公 开 日：20170922

专利主分类号：G01N15/02

关 键 词：样品池 检测器 照射轴 光源 光学元件 暗区域 散射 后向散射 颗粒表征 检测 前向 远场 配置 照射 干涉 

摘      要：一种颗粒表征仪器(200)，包括：光源(201)、样品池(202)、在光源(201)和样品池(202)之间的光学元件(204)以及检测器(203)。光学元件(204)配置为修改来自光源(201)的光以生成修改束(207)，所述修改束(207)：a)与自身干涉以沿照射轴(206)在样品池(202)中生成有效束(208)，和b)在远场中发散以沿照射轴(206)产生暗区域(209)，所述暗区域在距样品池(202)一定距离处基本上不被照射。检测器(203)，在距样品池(202)一定距离处，并配置为检测被样品池(202)中的样品从有效束(208)散射的光，检测器(203)定位成检测沿与照射轴(206)成0°至10°的角度的散射轴(306)的前向或后向散射的光。