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基于二次编解码结构的金属物体表面高光去除方法
专利申请号：CN202211064191.9
公 开 号：CN115131252B
发 明 人：宋颖 彭伟民 其他发明人请求不公开姓名
专利类型：发明专利
申 请 日：20221129
公 开 日：20220901
专利主分类号：G06T5/00
关 键 词：高光 去除 金属物体表面 检测 分类结果 高光区域 网络 训练集 原图像 构建 输出 高光图像 数据集中 网络架构 物体颜色 像素分类 兴趣区域 编解码 更新 掩码 与非 采集 保证
摘 要：本发明公开了一种基于二次编解码结构的金属物体表面高光去除方法，包括如下步骤：S1、采集原图像建立训练集，并根据数据集中含有高光的原图像，获得高光区域与非高光区域的像素分类训练集；S2、构建高光检测网络，将高光图像输入到高光检测网络，结合兴趣区域掩码输出高光检测的分类结果；S3、根据分类结果，计算损失并更新高光检测网络；S4、构建高光去除网络，输出高光去除结果；S5、根据无高光真值和S4的输出，计算损失并更新高光去除网络。该方法在保证物体颜色一致性与不失真的前提下，去除金属物体表面的高光构成一个适用性广的高光去除网络架构。
