一种原位高温拉伸测试方法及测试系统

专利申请号：CN202211067593.4

公 开 号：CN115436189A

发 明 人：郭广浩 王晋 李隆玉 张跃飞 张泽 

代 理 人：刘芳

代理机构：北京高沃律师事务所

专利类型：发明专利

申 请 日：20221206

公 开 日：20220901

专利主分类号：G01N3/18

关 键 词：拉伸试样 数据采集区 二次电子 扫描电镜 形貌图像 夹持区 拉伸台 采集 图像 高温拉伸测试 变形信息 表征分析 材料拉伸 测试系统 服役环境 服役条件 高温原位 机械打磨 样品夹具 抛光 夹持 拉伸 腔室 探头 显微 变形 

摘      要：本发明涉及一种原位高温拉伸测试方法及测试系统，涉及材料显微表征分析领域，方法包括：对样品进行机械打磨和抛光，得到拉伸试样；样品包括数据采集区和两个夹持区；数据采集区设置在两个夹持区之间；利用拉伸台的样品夹具夹持拉伸试样，并将拉伸台放置在扫描电镜腔室中；对拉伸试样进行高温原位拉伸试实验；利用EBSD探头采集拉伸试样的EBSD图像；利用扫描电镜采集拉伸试样的二次电子形貌图像；根据EBSD图像和二次电子形貌图像确定拉伸试样的变形信息。本发明能够模拟实际的高温服役环境，在近服役条件下得到材料拉伸变形各阶段的晶体学EBSD数据。