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一种浅层土壤污染快速调查定位方法及系统

一种浅层土壤污染快速调查定位方法及系统

专利申请号:CN202211071511.3

公 开 号:CN115420778A

发 明 人:张家铭 毛德强 郭丽莉 李书鹏 郑传鹏 孟健 

代 理 人:济南圣达知识产权代理有限公司王雪

代理机构:济南圣达知识产权代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20221202

公 开 日:20220902

专利主分类号:G01N27/20

关 键 词:测线 校准 采集数据 地下介质 电磁法 电阻率 高密度电阻率法 土壤污染 调查 定位方法及系统 采集 场地开发 区域规划 数据校准 污染治理 反演 浅层 无损 污染 测量 

摘      要:本发明属于土壤污染调查领域,提供了一种浅层土壤污染快速调查定位方法及系统,包括在调查区域规划校准测线和常规测线,先对校准测线分别用高密度电阻率法和电磁法进行采集,再对常规测线采用电磁法进行采集;根据校准测线的采集数据,利用高密度电阻率法对电磁法进行数据校准,得到校准方程;利用获得的校准方程对常规测线采集数据进行处理,对校准后的常规测线采集数据进行反演,获得地下介质电阻率;将调查区域的地下介质电阻率与对应的地下介质电阻率正常值进行比较,根据比较结果判断调查区域的污染范围和污染程度;本发明具有工作高效、原位无损及测量范围广等优势,为及时开展污染治理和场地开发提供保障。

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