一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置

专利申请号：CN202211064238.1

公 开 号：CN115134819B

发 明 人：齐龙涛 沈晨 夏明 李乐川 周奕轩 曹欣 

代 理 人：北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙)刘铁鸣;刘铁生

代理机构：北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20221209

公 开 日：20220901

专利主分类号：H04W24/00

关 键 词：测试 测试参数 解析 闭塞系统 参数标签 测试方法及装置 测试效率 插桩 预设 宕机 

摘      要：本发明提供了一种列控无线闭塞系统的测试方法及装置。所述方法包括：对接收的测试实例进行解析，确定各测试参数的参数标签；获取各所述测试参数的测试值，并利用所述参数标签确定所述测试值的解析方式；根据确定的解析方式，利用所述测试参数的测试值确定各所述测试参数的实际测试结果；根据各所述测试参数的实际测试结果确定所述测试实例的实际测试结果；根据所述测试实例对应的预设测试结果，利用所述测试实例的实际测试结果确定所述列控无线闭塞系统是否通过测试。本发明可以通过解析的方式，有效避免了由于测试插桩导致的系统宕机，从而有效的提高了测试效率。