质量分析装置

专利申请号：CN202210287171.1

公 开 号：CN115483088A

发 明 人：三浦宏之 出水秀明 

代 理 人：上海立群专利代理事务所(普通合伙)杨楷;毛立群

代理机构：上海立群专利代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20221216

公 开 日：20220322

专利主分类号：H01J49/04

关 键 词：离子 离子阱 冷却气体 离子释放 通过口 室内 质量分析装置 释放 配置 开口 飞行时间型 离子检测器 气体导入管 质量分析器 飞行空间 离子捕捉 离子检测 强度降低 真空排气 真空容器 导入口 排出口 电极 飞行 检测 

摘      要：本发明提供一种质量分析装置，能够抑制由冷却气体引起的离子检测强度降低。质量分析装置具备：真空容器，具有各自内部被真空排气的第1室、第2室及开口；离子阱，具备配置在第1室内的多个电极，具有将离子导入的离子导入口及将离子释放的离子释放口；气体导入管，将冷却气体导入离子捕捉空间；离子阱保持部，配置在第1室内，将离子阱保持在离子阱保持空间内，在壁上具有导入侧离子通过口、释放侧离子通过口及冷却气体排出口；飞行时间型质量分析器，配置在第2室内，具有从离子释放口通过释放侧离子通过口及开口向第2室内释放的离子进行飞行的飞行空间、及检测在飞行空间飞行的离子的离子检测器。