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一种干涉瑞利散射湍流度测量方法及装置

一种干涉瑞利散射湍流度测量方法及装置

专利申请号:CN202211417433.8

公 开 号:CN115560948A

发 明 人:李猛 陈力 陈爽 闫博 殷一民 

代 理 人:成都云纵知识产权代理事务所(普通合伙)陈婉鹃;熊曦

代理机构:成都云纵知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型:发明专利

申 请 日:20230103

公 开 日:20221114

专利主分类号:G01M9/06

关 键 词:湍流度 干涉条纹 气体流场 瑞利散射 滤波 瑞利散射信号 激光器 测量 干涉 测量方法及装置 背景干扰信号 工程应用能力 调谐激光器 多普勒频移 位置偏移量 中心位置处 背景干扰 波长调谐 参考激光 测点位置 介质特征 输出波长 有效抑制 中心波长 吸收峰 光谱 照射 激光 输出 

摘      要:本发明公开了一种干涉瑞利散射湍流度测量方法及装置,激光器的波长调谐范围、气体流场的速度范围,确定背景干扰信号和瑞利散射信号的光谱范围;确定滤波介质,调谐激光器的输出波长,使激光器输出的激光的中心波长位于滤波介质特征吸收峰的中心位置处;确定气体流场的测点位置,得到瑞利散射信号,照射至滤波介质,形成的干涉条纹;获取干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量;获取多普勒频移量,得到气体流场湍流度结果。本发明能够实现对干涉瑞利散射湍流度测量中强背景干扰的有效抑制,提升干涉瑞利散射湍流度测量技术的适用范围、测量精度和工程应用能力。

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