磁共振成像中的条纹伪影减少

专利申请号：CN201910389067.1

公 开 号：CN110471014B

发 明 人：S.G.林加拉 B.迈尔赫 N.贾纳哈南 J.达斯 R.格林 M.D.尼克尔 M.S.纳达 

代 理 人：毕铮;刘春元

代理机构：中国专利代理(香港)有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230124

公 开 日：20190510

专利主分类号：G01R33/58

关 键 词：空间数据 缩放因子 磁共振成像 条纹伪影 校正场 重建 图像 计算机操作 数据一致性 迭代重建 对象空间 偏差校正 强度偏差 条纹 采样 缩放 加权 校正 诊断 替代 应用 

摘      要：提供了磁共振成像中的条纹伪影减少。对于磁共振成像（MRI）中的径向采样，根据每个线圈的k‑空间数据确定重新缩放因子。重新缩放因子与k‑空间数据中的条纹能量成反比。来自线圈的k‑空间数据被重新缩放以用于重建，诸如通过迭代重建的数据一致性项中的重新缩放因子来对k‑空间数据进行加权。附加地或可替代地使用重新缩放因子来确定校正场，所述校正场用于在重建之后校正被应用到图像‑对象空间中的强度的强度偏差。这些方法可以导致具有减少的条纹伪影的诊断上有用的偏差校正图像，同时受益于高效的计算（即，计算机操作以更快地重建）。