一种信号测试及优化装置和方法

专利申请号：CN202211182334.6

公 开 号：CN115684765A

发 明 人：何进 陈才 邓博文 曾理 

代 理 人：北京布瑞知识产权代理有限公司张婷

代理机构：北京布瑞知识产权代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230203

公 开 日：20220927

专利主分类号：G01R31/00

关 键 词：第二信号 信号测试模块 信号优化 优化数据 信号分配模块 信号测试 优化处理 优化装置 传输 优化 克隆 测试 

摘      要：本发明提供了一种信号测试及优化装置和方法，信号测试及优化装置包括信号分配模块、信号优化模块和信号测试模块，信号分配模块用于获取第一信号，对第一信号进行克隆得到第二信号，并将第一信号传输至信号测试模块，将第二信号传输至信号优化模块，信号优化模块用于对第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据，并将优化处理后的第二信号传输至信号测试模块，信号测试模块用于对第一信号和第二信号进行测试获得测试结果，从而可以在第二信号的测试结果满足要求但第一信号的测试结果不满足要求的情况下，根据第二信号的优化数据对第一信号进行优化，进而可以在获得测试结果的同时获得优化数据，进而可以提高信号的优化效率。