一种两阶段的基于生成对抗网络的缺陷检测方法

专利申请号：CN202211311158.1

公 开 号：CN115690026A

发 明 人：干劲 李俊 陈帆 张继洲 叶振杰 吴明洋 吴家麒 

代 理 人：杭州易中元兆专利代理有限公司叶卫强

代理机构：杭州易中元兆专利代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230203

公 开 日：20221025

专利主分类号：G06T7/00

关 键 词：缺陷检测 缺陷图像 两阶段 图像 对抗 高分辨率图像 精密工业产品 区域定位模块 候选区域 候选图像 候选网络 阶段处理 局部图像 缺陷分数 缺陷区域 特征差异 特征提取 网络实现 原始图像 真实图像 重构图像 网络 分类 工业产品 拍摄 预测 

摘      要：本发明公开了一种两阶段的基于生成对抗网络的缺陷检测方法，本发明公开了一种两阶段的基于生成对抗网络(简称GAN)的缺陷检测方法，该方法分为两个阶段处理输入的图像。第一阶段是局部图像预测，将原始图像经特征提取后输入至区域候选网络中；第二阶段是缺陷图像分类，将上阶段得到的候选图像输入到基于GAN的缺陷检测网络中，利用真实图像与重构图像的特征差异获取缺陷分数，区分正常类与缺陷类图像。本发明解决了工业产品中缺陷区域相对于产品本身尺寸过小的问题，通过区域定位模块提取出较小的候选区域图像，再通过生成对抗网络实现缺陷图像分类，从而适用于针对精密工业产品拍摄的高分辨率图像的各种缺陷检测任务任务。