基于法拉第旋转估计的高轨SAR时变电离层效应误差校正方法

专利申请号：CN202211494062.3

公 开 号：CN115902792A

发 明 人：郭威 胡燕鹏 高新成 沈方芳 李小平 

代 理 人：西安智大知识产权代理事务所贺建斌

代理机构：西安智大知识产权代理事务所

专利类型：发明专利

申 请 日：20230404

公 开 日：20221125

专利主分类号：G01S7/40

关 键 词：时变 电离层效应 高轨 误差校正 回波 重构 校正 法拉第旋转效应 校正后图像数据 法拉第旋转角 电离层 极化信号 精度校正 图像数据 误差相位 误差影响 相位校正 原始图像 法拉第 解压缩 补零 反演 全圆 图像 

摘      要：一种基于法拉第旋转估计的高轨SAR时变电离层效应误差校正方法，先进行方位向信号补零，再计算方位向解压缩相位，然后重构方位向回波，再估计时变电离层效应误差相位，然后进行时变电离层效应误差校正，再获取校正后全图像数据，最后获取最终校正后图像数据；本发明利用高轨SAR全圆极化信号波受时变电离层引起的法拉第旋转效应误差影响，通过采用方位回波重构与法拉第旋转角估计反演，能够实现高轨SAR图像所受时变电离层效应误差高精度校正，其相位校正精度优于0.01rad，校正后图像与原始图像相关性高达99％，系统简单、成本低。