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定位精度测试方法、装置、计算机设备和存储介质

定位精度测试方法、装置、计算机设备和存储介质

专利申请号:CN202310184339.0

公 开 号:CN115951385A

发 明 人:谢璐璐 黄林轶 缪宗兵 韦胜钰 黄璇 

代 理 人:华进联合专利商标代理有限公司邓丹

代理机构:华进联合专利商标代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20230411

公 开 日:20230228

专利主分类号:G01S19/48

关 键 词:超宽带 绝对位置坐标 定位标签 目标场景 目标对象 基站 定位精度测试 基准定位数据 定位基准 目标空间 站点 地心坐标系 计算机设备 存储介质 定位数据 复杂环境 获取目标 信号发射 布设 全站仪 后视 测量 测试 申请 

摘      要:本申请涉及一种定位精度测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:确定在目标场景中布设的超宽带定位基准系统与至少两个测站点,超宽带定位基准系统包括在目标场景中构成目标空间的多个超宽带基站、以及设置于目标对象的定位标签;获取各测站点在地心坐标系中的绝对位置坐标,确定基于绝对位置坐标定后视、用于测量各超宽带基站的绝对位置坐标的全站仪;基于定位标签的信号发射位置、多个超宽带基站的绝对位置坐标,得到定位标签的基准定位数据;获取目标对象在目标空间内不同工况下的定位数据,与基准定位数据对比,得到目标对象在目标场景中的定位精度测试结果。采用本方法能够在复杂环境下,对目标对象定位精度进行精确测试。

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