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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
专利申请号:CN202211732927.5
公 开 号:CN116047436A
代 理 人:中国航天科工集团公司专利中心张国虹
代理机构:中国航天科工集团公司专利中心
专利类型:发明专利
申 请 日:20230502
公 开 日:20221230
专利主分类号:G01S7/40
关 键 词:发射通道 相控阵雷达天线 校准 平面扫描 鲁棒性 近场 雷达天线 校准技术 方向图 参考
摘 要:本说明书公开了一种有源相控阵雷达天线的近场幅相校准方法、系统、设备,涉及相控阵雷达天线校准技术领域,旨在解决现有技术对相控阵雷达天线进行近场校准鲁棒性较差的问题。本发明方法包括:对各发射通道一一进行平面扫描,获取相控阵雷达天线的各发射通道的幅度值、相位值;计算幅度值、相位值的误差,并基于误差对各发射通道进行校准;判断是否需要重新进行平面扫描,若否,则计算待测的发射通道的幅度值、相位值;获取待测的发射通道对应的参考阵面的幅度值、相位值,计算幅度值、相位值之间的误差,并基于误差对待测的发射通道再次进行校准。本发明提高了雷达天线方向图的补偿精度和效率,解决了有源相控阵雷达天线的幅相校准鲁棒性差问题。