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半导体器件

半导体器件

专利申请号:CN201711200350.2

公 开 号:CN108091689B

发 明 人:斯特凡·伯格伦德 森克·哈贝尼希特 斯特芬·霍兰 提姆·伯切尔 

代 理 人:北京天昊联合知识产权代理有限公司顾丽波;张娜

代理机构:北京天昊联合知识产权代理有限公司

专利类型:发明专利

申 请 日:20230516

公 开 日:20171121

专利主分类号:H01L29/417

关 键 词:导电 电连接 主表面 集电极端子 集电极区域 衬底 半导体 双极型晶体管 基极区域 电阻 邻近 半导体器件 发射极区域 背表面 安置 外部 制造 

摘      要:一种半导体器件及其制造方法。该器件包括具有主表面和背表面的半导体衬底。该器件还包括双极型晶体管。该双极型晶体管包括:集电极区域,位于半导体衬底中;基极区域,位于集电极区域内且邻近主表面安置;发射极区域,位于基极区域内且邻近主表面安置;以及集电极端子,位于半导体衬底的主表面上。该集电极端子包括:第一导电部分,电连接至集电极区域;电阻部分,电连接至第一导电部分;以及第二导电部分,用于允许与集电极端子进行外部电连接。第二导电部分经由电阻部分电连接至第一导电部分。

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