调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法

专利申请号：CN202310317655.0

公 开 号：CN116028291A

发 明 人：崔明志 刘龙斌 叶鹏玉 

代 理 人：王俊博;易杨

代理机构：北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明专利

申 请 日：20230428

公 开 日：20230329

专利主分类号：G06F11/22

关 键 词：调试 调试信号 生成单元 输出数据 输出系统 调试监控 调试模式 能力模块 驱动单元 寄存器 主机端 主模块 采样 电子设备 激励数据 预设 字段 对调 发送 反馈 传递 退出 

摘      要：本公开涉及PCIE设备调试领域，具体提供一种调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法。其中，调试信号输出系统设置在PCIE设备内，调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块；调试能力模块包括第一寄存器，第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出；调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元；在进入调试模式后，调试驱动单元用于将PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给PCIE设备的调试点；调试监控单元用于对调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给TLP生成单元；TLP生成单元用于根据该输出数据生成状态TLP包，并将状态TLP包反馈给PCIE主机端。