芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法

专利申请号：CN202110139460.2

公 开 号：CN112974272B

发 明 人：肖思文 郑朝生 郑挺 肖小波 容承昌 袁俊 卢旭坤 辜诗涛 张亦锋 

代 理 人：广州三环专利商标代理有限公司张艳美;刘光明

代理机构：广州三环专利商标代理有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20230606

公 开 日：20210201

专利主分类号：B07C5/02

关 键 词：进料盘 芯片 台车机构 出料盘 出料区 分盘 分类系统 机械手臂 标识码 读码器 分料区 进料区 接料 料槽 拿取 预设 承载 读取 芯片测试结果 接收芯片 处理器 料盘 容置 取出 输出 分类 记录 

摘      要：本发明公开一种芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法，分类系统包括进料区、分料区及出料区。进料区设有第一读码器，第一读码器读取进料盘上的标识码，标识码记录有进料盘中各芯片的BIN项信息及坐标。分料区设有多个料槽及机械手臂，机械手臂拿取进料盘中的芯片放至料槽，然后将相同BIN项排列到一起，于相同BIN项达到预设数目时拿取该BIN项芯片并运动至出料区的接料区域。出料区设有台车机构及分盘机构，分盘机构承载多个出料盘，每一出料盘用于容置一种BIN项芯片，处理器根据达到预设数目的BIN项驱使分盘机构、台车机构取出对应的料盘，台车机构承载该出料盘运动至接料区域接收芯片。本发明实现了将进料盘中的多种BIN项芯片分成单一BIN项输出。