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特效消耗时长的预测方法、装置、电子设备及存储介质

特效消耗时长的预测方法、装置、电子设备及存储介质

专利申请号:CN202310223077.4

公 开 号:CN116228950A

发 明 人:刘冠廷 

代 理 人:北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)刘凤

代理机构:北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

专利类型:发明专利

申 请 日:20230606

公 开 日:20230302

专利主分类号:G06T15/00

关 键 词:预测 消耗 时长预测 渲染 时长 计算机技术领域 目标特征参数 存储介质 电子设备 工作成本 关键数据 模型预测 最大消耗 质检 申请 测试 削减 美术 

摘      要:本申请涉及计算机技术领域,尤其涉及特效消耗时长的预测方法、装置、电子设备及存储介质。本申请基于待预测特效的至少一个目标特征参数在多个渲染帧中对应的候选特征值,确定影响待预测特效在渲染过程中消耗时间的关键数据,也即目标特征值,并将待预测特效的至少一个目标特征值输入训练好的特效消耗时长预测模型中,可以预测出待预测特效在渲染过程中目标最大消耗时长。这样,可以提高特效消耗时长预测模型预测的准确性,并可以减少美术人员和质检人员的工作成本,从而提高特效测试和特效削减的效率。

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